Πληροφορίες μαθήματος

Γενικές αρχές: Γεωµετρική και Φυσική Οπτική – Είδωλα – Φακοί – Απλό και σύνθετο µικροσκόπιο - Διαφράγµατα– Δίσκοι Airy – Διακριτική Ικανότητα. 
Η εξέλιξη του µικροσκοπίου: Η/Μ Ακτινοβολία – Κύµατα Ηλεκτρονίων – Μικροσκόπιο ακτίνων Χ – µαγνητικοί φακοί. 
Είδη ηλεκτρονικών µικροσκοπίων: ΤΕΜ. ΤΕΜ/R. STEM. SEM. EXMA. Φωταύγεια. Μικροσκόπια εκποµπής ηλεκτρονίων και ιόντων. 
Ιδιότητες µαγνητικών φακών: Δοµή Υστέρηση – Εκτροπές φακών (Σφαιρική – Αλλοίωση – Περιστροφή – Αστιγµατισµός – Χρωµατισµός). Βάθος πεδίου και βάθος εστίασης. 
Σχηµατισµός ειδώλου και αντίθεση: Προετοιµασία δείγµατος – Διαδικασία σχηµατισµού ειδώλου – Σκέδαση – Πυκνότητα µάζας – Απορρόφηση – Διαφράγµατα – Θόρυβος 
Θεωρία κενού: Βασικές παραδοχές της κινητικής θεωρίας των αερίων – Εφαρµογή κινητικής θεωρίας – Λειτουργία αντλιών – Τεχνολογία κενού – Εξίσωση συνεχείας – Όργανα µέτρησης – Σχεδιασµός ενός συστήµατος κενού. 
Σύγχρονο Η.Μ. διέλευσης: Εισαγωγικά – Φυσικά διαφράγµατα – Φακοί – Συστήµατα απεικόνισης 
Δοµή κρυστάλλων: Μελέτη Δοµών – Συστήµατα κρυστάλλωσης Bravais. Δείκτες Miller. Αντίστροφα πλέγµατα – Ατέλειες 
Περίθλαση ηλεκτρονίων: Νόµος Bragg – Μέθοδοι απεικόνισης και ανάλυσης – Προσδιορισµός δοµών – Ατέλειες δοµών – Ενδοεπιφανειών και υπέρλεπτων υµενίων 
Σύγχρονο Η.Μ. σάρωσης: Εισαγωγικά – Προετοιµασία δειγµάτων – Προετοιµασία δειγµάτων – Μέθοδοι ανάλυσης – Αντίθεση φάσης – Μέθοδος ΕΒΙC – Εφαρµογές 
Εισαγωγή στη µικροανάλυση ακτίνων-Χ: Αρχές – Παραγωγή ακτίνων – Χ Φάσµα – Χαρακτηριστικές γραµµές – Τοπογραφία – Ανίχνευση ακτίνων Χ (WDS, EDS) – Διαδικασία ανάλυσης και προβλήµατα. 
Ποιοτική και ποσοτική µικροανάλυση (Μέθοδος ZAF): Ενεργειακά φάσµατα – Παράγοντες Κa, Κz, Kf Ποσοτική ανάλυση – Μέθοδος ΖΑF – Εφαρµογές Το µάθηµα συµπληρώνεται µε (2) δύο Εργαστήρια άσκησης και εφαρµογές σε τεχνικές προετοιµασίας δειγµάτων για την παρατήρηση µε SEM και TEM (Επικάλυψη, οπτική παρατήρηση κλπ). Η άσκηση αφορά τόσο την επαφή µε ένα Η/Μ SEM όσο και αντίστοιχο τύπου ΤΕΜ και AFM.